国外集成电路命名方法国外主要集成电路生产厂家的集成电路命名方法缩写字符:AMD 老化产品。 26:计算机接口; X:管芯; H:商用, 27:双极存储器或 EPROM ; A:塑料球栅阵列
单排IC集成电路老化测试座--产品大全--E路网
298x376 - 14KB - JPEG
BURN-IN 集成电路高温动态老化系统 MIL-STD
800x764 - 60KB - JPEG
DIP封装集成电路老化测试座_厂家_价格_报价
800x666 - 97KB - JPEG
LC-225-小型集成电路老化筛选箱,85℃集成电路
600x450 - 77KB - PNG
单排IC集成电路老化测试座
971x737 - 54KB - JPEG
TO封装集成电路老化测试插座
800x600 - 83KB - JPEG
DIP封装集成电路老化测试插座
500x431 - 16KB - JPEG
集成电路老化测试插座的结构形式(4\/4)
400x235 - 21KB - JPEG
DIP封装集成电路老化测试插座
428x298 - 23KB - JPEG
供应TO封装集成电路老化测试插座价格及报价
800x666 - 81KB - JPEG
集成电路老化测试插座的结构形式(2\/4)
400x242 - 32KB - JPEG
DIP封装集成电路老化测试插座
500x429 - 20KB - JPEG
集成电路板高低温老化试验机满足标准_中国教
569x751 - 55KB - JPEG
集成电路老化测试插座的结构形式
300x260 - 27KB - JPEG
优质的集成电路老化试验箱测试标准-供应优质
579x600 - 158KB - JPEG