增刊.65.03静态飞行时间二次离子质谱( 1DF.sIMS)是通过分析一次离子轰击样品表面而 TOF.SIMS已经用于分析煤[孓51、大气颗粒物[61等。本工作利用TOF-SⅡ垤S对硅元表
【飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)测试】
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2017无机及同位素质谱大会新晋产品--扫描电镜
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