半导体tof测试设备【相关词_ tof测试】

81601引言TOF~^1锯言忌,在半导体器件的失效分布图中,铝键合系统的失效被认为是最主要的失效模式.它用常规的筛选和测试很难剔除,只有靠键合前的逐个目检或老化试验中

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