半导体失效检测【相关词_ 半导体失效分析】

当前形成半导体器件呈现失效的要素有很多,而详细的检测办法则能够分为两大类,一种是毁坏性检测,详细指的是翻开器件的封帽之后进行检测;另一种是非毁坏性检测,望文生义

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