四探针法测电阻率误差【相关词_四探针法测电阻率】

实验四探针法测电阻率 1.实验目的:学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。 2.实验内容硅单晶片电阻率的测量:选不同电阻率及不同厚度的

普通四探针电阻率测试仪生产厂家FT-330系列

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普通四探针电阻率测试仪FT-330系列 阿仪网

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