tofsims

Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS 原理 超真空环境下向样品射入1次离子束,从样品的浅表层(1~3nm)释放出2次离子。将2次离子导入飞行时间(TOF型

TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱

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TESCANTOF-SIMS联用技术研讨会在核工业

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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

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同位素地质学专用TOF-SIMS仪器专项获7项突

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同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器完成整机

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2017无机及同位素质谱大会新晋产品--扫描电镜

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同位素地质学专用TOF-SIMS仪器专项获7项突

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同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器研发新进

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同位素地质研究专用仪器TOF-SIMS成功研发_

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同位素地质学专用TOF-SIMS仪器专项获7项突

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质谱仪。飞行时间次级离子质谱仪tofsims。样

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质谱仪样品盘一次次的二次离子质谱tofsims透

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同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器开发专

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