半导体测试机构_半导体测试探针

上海依然半导体测试有限公司 针卡测量仪一、简介: (1)功能:用于测量针尖平整度,光洁度,针尖的直径,针尖长度,针尖与PCB的高度; (2)高倍显微镜:放大倍数:50——500倍平台平

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