热载流子效应对MOSFET可靠性的影响摘要:热载流子是器件可靠性研究的热点之一。特别对于亚微米器件,热载流子失效是器件失效的一个最主要方面。通过对这种失效机理及
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半导体中的热载流子 - 正文 - 金山词霸汉语 - H
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不同沟道长度MOSFET的热载流子效应_word文
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