判断待测MOSFET器件是否发生雪崩击穿,如果发生雪崩击穿,则跳转到步骤五;如果没有发生雪崩击穿,且测试模式为单次雪崩耐量自动测试模式或重复雪崩耐量测试模式,则跳转
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