四探针测量硅片表层电阻_四探针法测电阻率

正 双位组合四探针法测量硅片电阻率鲁效明(中国计量科学研究院无线电处,北京,100013)宿昌厚(北京工业大学,北京,100022)摘要本文研究用双位组合四探针测量. 您的位置:杂

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