薄膜物理 美国_薄膜物理

APS发言人詹姆斯·赖尔登(James Riordan)表示,NREL研究人员Howard Branz因“开创性研究薄膜硅:缺陷、亚稳态、生长过程、纳米结构和太阳能电池”获选为美国物理学会

Filmetrics F50 桌面式薄膜测厚仪 美国 Filmetri

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美国Filmetrics薄膜测厚仪中国总代理_物理特性

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porometer系列薄膜孔径分析仪_美国康塔仪器

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美国物理光电实验室DE400D 热阻蒸发薄膜沉

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poremaster 系列薄膜孔隙率测试仪_美国康塔仪

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美国Oakland纸张测厚仪MX-1100_物理特性分

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