利用TracePro软件建立LE D固晶品质检测教学模型 .该模型从芯片偏移 、支架选择不舍 碗杯的倾斜度变小 ,模拟结果如图5所示 。碗杯壁倾斜度减小后 ,芯片发出的光线经杯壁
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