I/O數的增加勢必使得金線之間距縮小,因此金線偏移問題對於成品良率的影響將更為重要。而隨著電子產品朝向高速化、多功能、高可靠度、低成本以及輕薄短小的趨勢演進之
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请帮我鉴定下这些是不是错币。_请帮我鉴定下
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