芯片测试-设计初期系统级芯片测试。 SoC的基础是深亚微米工艺,因此,对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设
【深圳ict测试治具主板功能测试治具bga芯片测
357x413 - 15KB - JPEG
定制bga芯片测试座_定制bga芯片测试座供货商
800x597 - 70KB - JPEG
【手机整机CPU eMCP 功能测试 主芯片整机功
800x736 - 51KB - JPEG
声卡BGA功能测试治具 声卡芯片测试治具 电脑
794x600 - 81KB - JPEG
【OV7648,OV7649感光芯片测试架 夹具工装治
200x200 - 10KB - JPEG
【BGA芯片测试治具 厂家 功能治具 工装夹具
750x690 - 62KB - JPEG
【手机FLASH测试治具,手机芯片功能测试治具
200x210 - 8KB - JPEG
各种南北桥芯片测试治具 bga测试治具 ic测试座
400x206 - 75KB - JPEG
汽车钥匙芯片LCR及功能测试机 - solidworks机
820x482 - 110KB - PNG
型的NI PXI Semiconductor Suite针对芯片测试应
350x288 - 124KB - PNG
IC测试治具|手机功能测试台|IC自动测试台|高精
652x747 - 40KB - JPEG
芯片测试治具烧录座|功能测试治具|电子测试治
293x220 - 8KB - JPEG
声卡BGA功能测试治具 声卡芯片测试治具 电脑
560x432 - 38KB - JPEG
声卡BGA功能测试治具 声卡芯片测试治具 电脑
798x595 - 94KB - JPEG
一种系统芯片的功能测试方法
598x402 - 66KB - JPEG