不依赖微波暗室的天线计量测试技术

背景介绍

测试方法

测试结果

总结与讨论

1、研究背景

随着通信技术的发展，天线向3D波束赋形和智能化演变，就天线测试设施而言，传统的远场测试系统测试速度慢，投资高。

后来出现了球面近场测量系统，测试速度得以提高，设备投资得以降低，使得快速测量3D方向图成为可能。

针对未来5G天线的测试，每个天线需要测试多种波束赋形的模式（也许超过100种），则测试工作量是巨大的。所以如何进一步提高测试速度、降低测试成本，是需要研究的。

2、测试方法

甚近场测量场地：近年来的新技术，不依赖电波暗室，这主要是因为在感应近场区，由于磁场的闭环特性，测量探头对磁场的扰动影响要轻微一些。在测得甚近场区域的磁场幅度、相位参量以后，需要进行数据处理才能换算得到远场辐射特性。

3、测试结果

中国泰尔实验室是我国信息通信领域规模最大、技术领先的计量检测实验室，仪表计量、检测联系方式：

送检地址：北京市海淀区花园北路52号科研楼5层中厅（研究院北门正对米黄色大楼），邮编:100191

Email: zhangxin1@caict.ac.cn

为您着想，对您负责，使您满意

欢迎关注

中国泰尔实验室

官方微信

chinattl@caict.ac.cn